The application of secondary ion mass spectrometry for the investigation of dopant and matrix elements in CoSi₂/Si structures
- Författare
- Tekniska högskolan i Stockholm Juan Cardenas
- (Juan Cardenas., Härtill 7 uppsatser, Diss. (sammanfattning) Stockholm : Tekn. högsk.)
- Genre
- theses, Avhandlingar
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| KTH högskoletr. | 1998 | Sverige, Stockholm, Stockholm | x, 62 sidor. 24 cm |